LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。

产品外观

主要技术指标

-         1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和检查

-         LCR模式下达1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的测量

-         基本精度±0.08%的精度测量

-         适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

-         分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

-         可以用于无线充电评价系统TS2400

主要功能特点

-    低电容(高阻抗)测量，提高稳定性

和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精度提高了一位。例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。 同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻 抗)测量时的D测量的稳定性。

-   广范围的测量频率

IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范围内以5为分辨率(1kHz以 下为0.01Hz分辨率)设置频带。可进行共振频率测量和接近工作条件状态下的测量和评估。

-   广范围的测量电压/电流

除了可以设定一般的开环信号，还能设定恒压/恒流模式。可设定的测量电平信号，从5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)。(根据频率、测量模式不同，测量信号电平的设置范围也不同。)

-  内部可发生DC偏置电压

只需主机即可施加大2.5V的DC偏置电压进行测量。可放心对钽电容等极性电容器进行测量。充电阻抗为100Ω。

-  高分辨率

7位显示可进行多7位显示的分辨率测量。可设置3~7位的显示位数。

DC~5MHz可使用4端子探头

4端子探头L2000(选件)采用匹配50Ω阻抗和提高测量精度的4端子构造，适合于IM3570的探头。

-  测试线可达4m

4端子的构造降低了测试线的影响，测量线长0、1、2、4m时，保证测试精度。自动设备的排线方便简单。(根据线长的不同，精度保证的频率范围也不同)

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